【時報記者張漢綺台北報導】針對光焱科技(7728)聲明尚未收到「任何法院相關訴訟函件」，汎銓(6830)董事長柳紀綸表示，以IR影像感測器接收矽光子的光訊號是公司專利，公司已在3月25日早上正式向智慧財產及商業法院提起民事訴訟，此案已進入司法程序，希望光焱科技積極面對法律問題，至於相關事實與法律爭點，將依法由法院審理並作出最終判斷。

柳紀綸表示，矽光子主要使用紅外線波段，最常用為1310奈米和1550奈米，所以要偵測這波段的漏光一定要用能感測這波長的偵測器，也就是IR 影像感測器，汎銓的專利範圍是「以IR影像感測器接收矽光子的光訊號」，若「無法收光」就「沒辦法做光譜分析」，「光損偵測裝置」為公司重要關鍵技術之一，已取得台灣、日本及美國發明專利，並實際應用於矽光子元件光損量測與定位分析，在高速光通訊、AI及光電整合等應用領域具備高度技術價值與產業重要性。

據光焱科技指稱，針對汎銓科技於公開資訊觀測站及記者會上，單方面宣稱光焱科技侵害其第I870008B號「光損偵測裝置」發明專利並求償一事，光焱科技26日嚴正駁斥並表示，截至3月26日為止，公司並未收到任何法院相關訴訟函件，光焱科技對於同業在尚未經完整司法程序前，即透過媒體發布資訊，阻礙產業創新之行為深感遺憾。

　柳紀綸表示，公司已於2026年3月25日上午正式向智慧財產及商業法院提起民事訴訟，主張光焱科技侵害公司所擁有之中華民國第I870008B號「光損偵測裝置」發明專利，並依法請求相關侵權行為之停止及新台幣2億元之損害賠償，此案已進入司法程序，呼籲相關當事人以誠實態度面對司法程序。

　汎銓強調，公司長期深耕於半導體先進製程材料分析、AI晶片分析平台及矽光子檢測技術領域，相關核心技術係投入大量研發資源所累積之成果，光焱科技所發布之相關聲明，公司基於尊重司法程序原則，不就個別技術爭議或其單方面說法進行逐一回應，雙方技術差異、是否構成專利侵權，以及相關專利權利範圍之認定，均屬專業法律與技術判斷範疇，應回歸智慧財產及商業法院依據具體事證進行審理。